知识产权 基本信息

热电离飞行时间质谱关键技术研究及设备研制（ZL201310188914.0）

简要介绍

本专利针对 TI-MS 测量难以适应宽质量范围不同元素监测的问 题，提出了一种具有全谱获取、热色层效应的热电离飞行时间质谱分 析检测技术方案，以及一种具有分辨率高、分析速度快、样品用量少 等特点的热电离飞行时间质谱仪器技术方案，可用于核级材料中关键 元素的同位素测定。

本知识产权 对应产品 技术优势 和性能指标

基于本专利开发的热电离飞行时间质谱仪，主要技术优势和性能 指标如下：

一、主要技术优势 有效利用飞行时间分析器的全谱分析特性，为地质样品 Pb 同位

素分析建立新的方法，并取得良好的应用效果。 二、主要性能指标

（1）真空系统漏率：＜1×10-9Pa.m3/s；

（2）质量范围：（1～320）amu；

（3）分辨率（50%峰谷）：≥2000；

（4）丰度灵敏度：A≤5×10-4；

（5）测量精密度：1%。

技术水平

□国际领先 □国际先进 ■国内领先 □国内先进

应用情况

基于本专利开发的质谱仪正处在试生产阶段。

应用前景

主要应用于同位素分析、核级材料分析、环境工程、食品工程等。

转化形式

□转让 □许可 ■合作开发 □作价投资

持有单位

核工业北京地质研究院

联系方式

联系人：范增伟

电 话：010-84837482

邮 箱：reckyfan@126.com

地 址：北京市朝阳区小关东里 10 号院