
热电离飞行时间质谱关键技术研究及设备研制
2016-11-28
知识产权 基本信息 |
热电离飞行时间质谱关键技术研究及设备研制(ZL201310188914.0) |
简要介绍 |
本专利针对 TI-MS 测量难以适应宽质量范围不同元素监测的问 题,提出了一种具有全谱获取、热色层效应的热电离飞行时间质谱分 析检测技术方案,以及一种具有分辨率高、分析速度快、样品用量少 等特点的热电离飞行时间质谱仪器技术方案,可用于核级材料中关键 元素的同位素测定。 |
本知识产权 对应产品 技术优势 和性能指标 |
基于本专利开发的热电离飞行时间质谱仪,主要技术优势和性能 指标如下: 一、主要技术优势 有效利用飞行时间分析器的全谱分析特性,为地质样品 Pb 同位 素分析建立新的方法,并取得良好的应用效果。 二、主要性能指标 (1)真空系统漏率:<1×10-9Pa.m3/s; (2)质量范围:(1~320)amu; (3)分辨率(50%峰谷):≥2000; (4)丰度灵敏度:A≤5×10-4; (5)测量精密度:1%。 |
技术水平 |
□国际领先 □国际先进 ■国内领先 □国内先进 |
应用情况 |
基于本专利开发的质谱仪正处在试生产阶段。 |
应用前景 |
主要应用于同位素分析、核级材料分析、环境工程、食品工程等。 |
转化形式 |
□转让 □许可 ■合作开发 □作价投资 |
持有单位 |
核工业北京地质研究院 |
联系方式 |
联系人:范增伟 电 话:010-84837482 邮 箱:reckyfan@126.com 地 址:北京市朝阳区小关东里 10 号院 |